xrd衍射儀是通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線(xiàn)同無(wú)線(xiàn)電波、可見(jiàn)光、紫外線(xiàn)等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長(cháng)范圍而已。X射線(xiàn)的波長(cháng)較短,大約在10-8～10-10cm之間。具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。
xrd衍射儀一款重量很輕、便于攜帶，且幾乎無(wú)需維護的儀器。xrd衍射儀可以解決的問(wèn)題有：
1、當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
2、很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
3、新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數，為新材料開(kāi)發(fā)應用提供性能驗證指標。
4、產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀(guān)應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀(guān)應力。
5、納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì )給出錯誤的數據。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法可以測定納米粒子的平均粒徑。
